W pracy przedstawiona-jest nowa metoda pomiaru małych kątów nachylenia, oparta na wykorzystaniu wahadła z przysłoną współpracującą z barierą optoelektroniczną. Załączone są również wyniki badań skonstruowanej aparatury, dotyczące dryftu kąta pochylenia i zmienności okresu wahali wahadła dla dodatnich i ujemnych kątów pochylenia. Zobrazowano też zmienność błędów średnich kąta pochylenia i okresu wahań wahadła dla wszystkich testowych serii pomiarowych.