Tytuł artykułu

Multi-technique characterisation of InAs-on-GaAs wafers with circular defect pattern

Tytuł czasopisma

Opto-Electronics Review

Rocznik

2023

Wolumin

31

Numer

special issue

Autorzy

Boguski, Jacek ; Wróbel, Jarosław ; Złotnik, Sebastian ; Budner, Bogusław ; Liszewska, Malwina ; Kubiszyn, Łukasz ; Michałowski, Paweł P. ; Ciura, Łukasz ; Moszczyński, Paweł ; Odrzywolski, Sebastian ; Jankiewicz, Bartłomiej ; Wróbel, Jerzy

Afiliacje

Boguski, Jacek : Institute of Applied Physics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Wróbel, Jarosław : Institute of Applied Physics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Złotnik, Sebastian : Institute of Applied Physics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Budner, Bogusław : Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Liszewska, Malwina : Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Kubiszyn, Łukasz : VIGO Photonics S.A., Poznańska 129/133, 05-850 Ożarów Mazowiecki, Poland ; Michałowski, Paweł P. : Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Ciura, Łukasz : Department of Electronics Fundamentals, Rzeszów University of Technology, W. Pola 12, 35-959 Rzeszów, Poland ; Moszczyński, Paweł : Institute of Computer and Information Systems, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Odrzywolski, Sebastian : Institute of Applied Physics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Jankiewicz, Bartłomiej : Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Wróbel, Jerzy : Institute of Applied Physics, Military University of Technology, gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warsaw, Poland ; Wróbel, Jerzy : Institute of Physics, Polish Academy of Sciences, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warsaw, Poland

Słowa kluczowe

wafer homogeneity ; wafer defect pattern ; surface roughness ; indium arsenide ; beryllium doping

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

e144564

Wydawca

Polish Academy of Sciences (under the auspices of the Committee on Electronics and Telecommunication) and Association of Polish Electrical Engineers in cooperation with Military University of Technology

Data

24.02.2023

Typ

Article

Identyfikator

DOI: 10.24425/opelre.2023.144564 ; ISSN 1896-3757

Indeksowanie w bazach

Abstracting and Indexing:
Arianta
BazTech
EBSCO relevant databases
EBSCO Discovery Service
SCOPUS relevant databases
ProQuest relevant databases
Clarivate Analytics relevant databases
WangFang

additionally:
ProQuesta (Ex Libris, Ulrich, Summon)
Google Scholar