Tytuł artykułu

Quantification of microstructural homogeneity in indium arsenide epilayers by X-ray diffraction

Tytuł czasopisma

Metrology and Measurement Systems

Rocznik

2024

Wolumin

vol. 31

Numer

No 2

Autorzy

Odrzywolski, Sebastian ; Kojdecki, Marek Andrzej ; Złotnik, Sebastian ; Kubiszyn, Łukasz ; Wróbel, Jarosław

Afiliacje

Odrzywolski, Sebastian : Institute of Applied Physics, Military University of Technology, 2 Kaliskiego Street, 00-908 Warsaw, Poland ; Kojdecki, Marek Andrzej : Institute of Mathematics and Cryptology, Military University of Technology, 2 Kaliskiego Street, 00-908 Warsaw, Poland ; Złotnik, Sebastian : Institute of Applied Physics, Military University of Technology, 2 Kaliskiego Street, 00-908 Warsaw, Poland ; Kubiszyn, Łukasz : VIGO Photonics S.A., 129/133 Poznanska St., 05-850 Ozarów Mazowiecki, Poland ; Wróbel, Jarosław : Institute of Applied Physics, Military University of Technology, 2 Kaliskiego Street, 00-908 Warsaw, Poland

Słowa kluczowe

X-ray diffraction ; crystalline structure ; crystalline microstructure ; epitaxy ; indium arsenide ; crystallite size ; first-order strain ; second-order strain

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

231-257

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Data

19.08.2024

Typ

Article

Identyfikator

DOI: 10.24425/mms.2024.149700 ; ISSN 2080-9050, e-ISSN 2300-1941