Tytuł artykułu

Efficient transient simulation of efuse

Tytuł czasopisma

International Journal of Electronics and Telecommunications

Rocznik

2025

Wolumin

vol. 71

Numer

No 3

Autorzy

Jaworski, Zbigniew

Afiliacje

Jaworski, Zbigniew : Warsaw University of Technology, Institute of Microelectronics and Optoelectronics, Poland

Słowa kluczowe

Efuse ; Verilog-A ; transient simulation ; OTP memory ; FD-SOI ; CMOS

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

1–6

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee of Electronics and Telecommunications

Data

11.07.2025

Typ

Article

Identyfikator

DOI: 10.24425/ijet.2025.153636 ; eISSN 2300-1933 (since 2013) ; ISSN 2081-8491 (until 2012)